DECTRIS PILATUS3 R CdTe混合像素光子計數X射線探測器
1、產品特點：DECTRIS 混合像素光子計數X射線探測器
PILATUS3 R CdTe系列結合了無噪聲單光子計數的優點和在大型碲化鎘（CdTe）傳感器中直接檢測硬X射線的優點。
與閃爍體的檢測器相比，混合像素中的直接檢測產生更銳利的信號和更好的空間分辨率。 CdTe為Mo，Ag和In輻射提供接近100％的吸收效率。結合無噪聲單光子計數，這將實驗室中的X射線檢測帶入了一個新的靈敏度和準確度水平。
實驗室中的X射線源，尤其是硬X射線的X射線源比同步加速器弱得多，因此需要較長的曝光時間并導致較弱的信號，由于沒有暗電流和讀出噪音，PILATUS3 R探測器超過了實驗室的所有其他技術。單光子計數不含所有其他噪聲源以及CMOS電容檢測器內置的不準確性，例如復位噪聲和非線性電荷響應。相反，由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供動力的快速計數電子設備,結合精確的計數率校正提供寬泛的線性范圍，*兼容所有實驗室的X射線源。
具有挑戰性的實驗室應用（如電荷密度研究和配對分布函數分析）依靠硬輻射和具有出色信噪比的數據，PILATUS3 R CdTe探測器系列提供了高效直接探測和無噪聲單光子計數的*組合，并且是實驗室中這些要求的全能匹配。
2、核心優勢：DECTRIS 混合像素光子計數X射線探測器?
- Mo，Ag和In量子效率> 90％
- 直接檢測清晰的空間分辨率
- 沒有讀出噪音，也沒有黑暗信號達到高精度
- 高動態范圍
- 熒光背景抑制
- 同步輻射證明的輻射硬度
- 免維護運行
- 高可靠性：沒有容易發生故障的密封或復雜，冷卻至室溫以下
3、應用領域
- 電荷密度分析
- 配對功能（PDF）分析
- 高分辨率化學結晶學
- 高壓/高溫XRD
- 關鍵尺寸SAXS
- 計算機斷層掃描（CT）
- 無損檢測（NDT）
4、技術參數：
PILATUS3 R CdTe | 300K | 300K-W |
探測器模塊數量 | 1 × 3 | 3 x 1 |
有效面積：寬×高 [mm²] | 83.8 × 106.5 | 253.7 x 33.5 |
像素大小 [μm²] | 172 x 172 | |
總像素數量 | 487 × 619 | 1475 × 195 |
間隙寬度, 水平/垂直（像素） *每個模塊之間水平間隙增加1個像素 | - */ 17 | 7* / - |
非靈敏區 [ % ] | 5.7 | 1.1 |
缺陷像素 | < 0.1% | |
幀頻 [Hz] | 20 | |
讀出時間 [ms] | 7 | |
點擴散函數 | 1 pixel（FWHM） | |
計數器深度 | 20 bits（1,048,576 counts） | |
功耗 [W] | 30 | |
尺寸（WHD）[mm³] | 158 x 193 x 262 | 280 x 62 x 296 |
重量 [kg] | 7.5 | 7.0 |
模塊冷卻 | 水冷 | |
外接觸發電壓 | 5V TTL | |
